EMI測試

EM5030 是(shi)一款主(zhu)要用于(yu)查找幹(gàn)擾源，判(pàn)定幹擾(rao)産生原(yuan)因的高(gao)性價比(bi)近場探(tàn)頭。可用(yong)來檢測(cè)器件表(biao)面的磁(ci)👅場方向(xiàng)以及強(qiáng)💋度；檢測(ce)磁場耦(ǒu)合的通(tong)道，從而(er)調整👌連(lián)接器位(wei)置；檢測(ce)模塊❤️附(fù)近的磁(ci)場環境(jìng)。爲了降(jiàng)低幹擾(rǎo)，尋找到(dao)真正的(de)幹擾源(yuán)或者是(shì)其傳播(bo)的途徑(jìng)是非常(chang)有必要(yao)的，通過(guò)近場探(tan)頭測量(liang)可以很(hen)方便地(di)實現定(dìng)位🔞功能(neng)。通過配(pèi)合本公(gong)司的EM5020前(qián)置放大(dà)器可以(yi)提高系(xi)統測試(shì)靈敏度(du)。大大的(de)減少産(chan)品的研(yan)發🈚周期(qi)，減少往(wang)返實驗(yàn)室的時(shi)間和金(jin)錢，減少(shǎo)不必要(yào)的錯誤(wù)測試。 EM5030近(jin)場探頭(tou)就是解(jiě)決問題(ti)的最好(hǎo)利器！

型号(hào)	說(shuō)明	特性
EM5030－1	磁(ci)場近場(chǎng)探頭，可(ke)檢查10cm範(fan)圍内的(de)磁場。 主(zhǔ)要用于(yu)機箱洩(xiè)漏測試(shì)。 頻率範(fan)圍：30MHz to 3 GHz 分辨(bian)率：25mm左右(you)
EM5030－2	磁場近(jìn)場探頭(tóu)，可檢查(chá)3cm範圍内(nèi)的磁場(chǎng)。 頻率範(fàn)圍：30MHz to 3 GHz 分辨(biàn)率：10mm左右(yòu)
EM5030－3	磁場近(jin)場探頭(tóu)，主要用(yòng)于線纜(lǎn)電磁洩(xiè)漏測試(shi)。 頻率範(fàn)圍：30MHz to 2 GHz 分辨(bian)率：5mm左右(you)
EM5030－4	磁場近(jin)場探頭(tóu)，可檢測(ce)垂直方(fang)向發射(shè)的電磁(cí)場 。 主要(yao)用于PCB布(bù)線産生(shēng)的電磁(cí)場測試(shi)。 頻率範(fàn)圍：30MHz to 3 GHz 分辨(biàn)率：2mm左右(yòu)